短波焦平面探測器的黑體源，積分球光源和光學(xué)器件可以快速的重新配置來進(jìn)行泛光照明模式、聚焦模式、準(zhǔn)直光模式測試。MTF、串?dāng)_、點(diǎn)掃描和D*測試是非常和可復(fù)現(xiàn)的。短波焦平面探測器精密的平臺(tái)結(jié)構(gòu)可以消除多個(gè)測試設(shè)備的布局和光路準(zhǔn)直帶來的誤差。

　　

　　短波焦平面探測器用于的聚焦模式測試：

　　

　　在聚焦模式測試中，短波焦平面探測器可以將紅外照射的小孔或靶標(biāo)聚焦在探測器的某個(gè)像素上面。典型的聚焦模式測試項(xiàng)包含串?dāng)_,點(diǎn)掃描、調(diào)制傳遞函數(shù)。高溫腔式黑體和低溫面源黑體都可以作為短波焦平面探測器的紅外光源，積分球光源作為可見光源。

　　

　　短波焦平面探測器用于的泛光照明模式測試：

　　

　　在泛光照明模式測試中，短波焦平面探測器用未聚焦的面源黑體或高溫腔式黑體輻射線照射探測器。泛光照明模式測試項(xiàng)包含響應(yīng)率、噪聲、均勻性、探測靈敏度、線性度。輻射源的位置是用短波焦平面探測器帶有刻度的光學(xué)精密軌道和快速可調(diào)的運(yùn)動(dòng)支架來設(shè)定的，以此來達(dá)到準(zhǔn)確控制輻照度的目的。

　　

　　短波焦平面探測器用于的準(zhǔn)直模式測試

　　

　　泛光照明模式和聚焦模式是測試非成像光學(xué)傳感器或系統(tǒng)的。短波焦平面探測器可以通過加裝平行光管來實(shí)現(xiàn)成像系統(tǒng)的性能測試，這用溫差面源黑體和靶輪或腔式黑體和光闌經(jīng)過平行光管投射到被測成像系統(tǒng)。準(zhǔn)直模式測試項(xiàng)包括系統(tǒng)級(jí)的調(diào)制傳遞函數(shù)、信號(hào)傳遞函數(shù)、噪聲等效溫差和小可分辨溫差等，使用準(zhǔn)直模式下的短波焦平面探測器可以省去購買獨(dú)立的紅外目標(biāo)模擬器的費(fèi)用。