短波焦平面探測器是一種用于電子顯微鏡圖像捕捉的器件。它是構(gòu)成電子顯微鏡的主要部件之一，常見于透射電子顯微鏡中。其工作原理是基于電成像的技術，是將在物體上產(chǎn)生的電子成像轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像的過程。
 

　　短波焦平面探測器的工作原理：
 

　　它由一個電子集合器和一個電子檢測器組成。首先，電子從電子源發(fā)射而出，聚焦于樣品的表面或中心區(qū)域。當電子與物體相互作用時，會產(chǎn)生一系列的電子信號。這些電子信號將被電子集合器收集。電子集合器將收集的電子信號轉(zhuǎn)化為電學信號，并將其傳送到電子檢測器。
 

　　電子檢測器是一個固態(tài)探測器，其主要成分是均勻的閃爍體。閃爍體由一種能夠發(fā)射光子的材料制成，例如鍺、硅、氣體、液體等。當閃爍體受到電子束的刺激時，就會發(fā)射出光子，這些光子被電子檢測器捕獲。通過測量閃爍體發(fā)射的光子數(shù)目，電子檢測器就能夠確定在該位置發(fā)生的電子束強度。
 

　　在透射電子顯微鏡中，通常會使用的是能夠捕捉多個單元細胞的谷粒長條形的電子探測器。這個電子探測器有多個探測單元，通過對每個單元的讀取，可以確定一部分的電子成像。這種電子檢測器對非常小的電子束直徑具有很高的檢測靈敏度。
 

　　總之，短波焦平面探測器是一種精密的電子探測器，用于捕捉電子顯微鏡的圖像。通過收集物體上激發(fā)出的電子信號，并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像，它產(chǎn)生了具有高分辨率和靈敏度的成像結(jié)果，有助于科學家深入了解物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。